紫外可見分光光度計(jì)

日立紫外可見近紅外分光光度計(jì) UH4150AD+

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品牌：日立科學(xué)|HITACHI
型號(hào)：UH4150AD+
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近年來，近紅外區(qū)的光學(xué)元件廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)和自動(dòng)駕駛等行業(yè)領(lǐng)域，針對(duì)這類元件的測(cè)定，我們推出一款高靈敏度且寬動(dòng)態(tài)范圍的儀器。

特點(diǎn)

具有紫外可見區(qū)8Abs、近紅外區(qū)7Abs的測(cè)光范圍

近紅外區(qū)
在近紅外區(qū)域安裝了高靈敏度的 InGaAs 探測(cè)器。直入射探測(cè)器通過安裝集成放大器的探測(cè)器實(shí)現(xiàn)低噪聲，并支持近紅外區(qū)域7Abs的測(cè)光范圍。

紫外可見區(qū)
紫外可見區(qū)沿用了舊型號(hào)*1，測(cè)光范圍為８Abs。
另外，UH4150AD+采用了靈敏度更高的光電倍增管，可以依據(jù)樣品的光學(xué)特性靈活選擇檢測(cè)器的切換波長。

憑借紫外?可見?近紅外區(qū)寬的測(cè)光范圍，非常適合評(píng)價(jià)近紅外型光學(xué)元件，如自動(dòng)駕駛等的傳感設(shè)備LiDAR*2等光學(xué)元件及智能手機(jī)攝像頭的濾光片、人臉識(shí)別濾光片等。

沿用備受好評(píng)的UH4150光學(xué)系統(tǒng)

在測(cè)定固體樣品的正反射時(shí)，入射角很重要。對(duì)于聚集光束，入射角會(huì)隨焦距的變化而變化，從而造成導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜預(yù)測(cè)值和實(shí)際值產(chǎn)生差異。
對(duì)于平行光束，所有樣品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度測(cè)定正反射。另外，平行光束對(duì)于擴(kuò)散性評(píng)價(jià)（霧度）、鏡頭透過率測(cè)定也是有效的。

*1UH4150AD

*2使用標(biāo)準(zhǔn)積分球時(shí)

規(guī)格

主要規(guī)格

項(xiàng)目	UH4150 Advanced Spec+
檢測(cè)器	紫外?可見區(qū)間：光電增倍管、近紅外區(qū)間：冷卻型InGaAs
可測(cè)定波長范圍	（直射光檢測(cè)器附件） 185～1,800 nm （Φ60標(biāo)準(zhǔn)積分球附件） 240～1,800 nm 可設(shè)置的波長范圍 175～2,000 nm
分光器	光柵?光柵形雙單色器預(yù)單色器：使用光柵（2個(gè)可切換的衍射光柵）的Littrow單色器主單色器：使用光柵（2個(gè)可切換的衍射光柵）的Czerny-Turner單色器
測(cè)光方式	雙光束直接比率測(cè)光方式（以日立獨(dú)有的差速器反饋方式能夠?qū)ω?fù)吸光度或者100 %以上的透過率／反射率進(jìn)行測(cè)定）紫外?可見區(qū)間：負(fù)電壓控制方式及狹縫控制方式近紅外區(qū)間：狹縫控制方式及固定狹縫方式
測(cè)定模式	吸光度（Abs）、透過率（％T）、反射率（％R）、光學(xué)濃度 (O.D.) 參照能量（E(R)）／樣品能量（E(S)）
測(cè)光范圍	（直射光檢測(cè)器附件）吸光度；紫外?可見區(qū)間：-2～8 Abs、近紅外區(qū)間：-2～7 Abs 透過率／反射率：0～999.99 （Φ60標(biāo)準(zhǔn)積分球檢測(cè)器）吸光度；紫外?可見區(qū)間：-2～6 Abs、近紅外區(qū)間：-2～5 Abs 透過率／反射率：0～999.99
測(cè)光正確性	±0.002Abs（0≦A＜0.5 Abs）、±0.004 Abs（0.5≦A≦1.0 Abs）、 ±0.3 %T、以NIST SRM 930為標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的測(cè)定
使用溫度	15～35 ℃
使用濕度	25～80 %（不結(jié)露，溫度大于25°時(shí)要小于70%）
尺寸	寬度 900× 深度 760×高度 1,180 mm（不包括把手、螺釘部分），寬度 900×深度 791×高度 1,180 mm（包括把手部分）
重量	160 kg